紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
1、紫外线源(太阳，紫外灯等)的辐射强度测量测量紫外线源的紫外强度时，探测器方向正对紫外线源，按下"POWER"键，开启仪器，选择适合的测试量程即可。右图测试太阳光到达地面的紫外线辐射强度，测量值为712uW/cm2。
2、太阳隔热膜、隔热玻璃等对紫外线的阻隔性能测试太阳膜或隔热玻璃等的紫外线阻隔性能测试时，应分两步测量:
第一步:测量紫外源的辐射强度:
紫外源可选太阳光或紫外灯等。首先测量紫外源的紫外线的辐
射能功率密度UV1W。(如图1的第一步)
第二步:测量被太阳膜阻隔后的紫外源的辐射强度:
保持紫外源与仪器间距离不变，在仪器与紫外源之间插入待测太阳膜或隔热玻璃，被测物需紧贴仪器的测量端面，以免受外界光的影响。记下有太阳膜时紫外线的辐射能功率密度UV2W。
