北师大UV-313/UV-340双通道紫外辐照计产品概述
该款紫外辐照计采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
北师大UV-313/UV-340双通道紫外辐照计产品特点
光谱及角度特性经严格校正
数字液晶显示,带背光
手动/自动量程切换
数字输出接口(USB,冗余供电)
低电量提醒
自动延时关机
有数字保持
轻触按键操作,蜂鸣提示
项目 | 参数 | 备注 |
波长范围λ1,峰值波长λp | (290~340)nm,λP=313nm | 配备两只探头 |
波长范围λ2,峰值波长λp | (315~370)nm,λP=340nm | |
辐照度测量范围 | (0.1~199.9×103) μW/cm2 |
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零值误差(满量程FS) | <满量程的±1.0% |
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长波响应误差 | <15% |
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余弦特性(方向性响应)误差 | <10% |
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非线性误差 | <±1.5% |
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换档误差 | <±1.0% |
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疲劳误差 | <3.0% |
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相对示值误差 | <±8.0%(相对于NIM标准) |
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响应时间 | <1秒 |
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使用环境 | 温度(0~40)℃;湿度<85%RH |
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尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm;0.2kg |
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电源 | 6F22型9V积层电池(非充电电池) |
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整机功耗 | <0.1VA |